韩国开发全球首台高速测量设备，可检测显示器的纳米薄膜表面缺陷

韩国檀国大学（Dankook University）1月22 日宣布，开发出全球第一台设备，可快速测量手机等各种显示器表面的奈米薄膜表面缺陷。

显示器通常会经过一道工序，即在表面贴上一层 20-40 奈米厚的奈米薄膜，使其变得光滑。过去要辨识奈米薄膜必须使用透社电子显微镜、原子力显微镜和扫描电子显微镜等耗时方法，因此难以定量测量，且常常导致次级品出厂。

尤其是可摺叠和柔性显示器，是使用光学透明黏合剂来黏合每一层，因此常在摺叠点出现分层，导致整个产品报废。

在韩国公司 Powel 支持下，Han Kwan-Young 带领的研究团队开发出一种设备，利用高分辨率相机拍摄显示器基板奈米薄膜表面，测量每个表面的能量（energy），以确定缺陷。

这款设备可在 40 秒内测量 8 吋显示荧幕的整个区域，进而快速确定缺陷。据报导，利用该设备可预先筛查每个奈米薄膜中的缺陷，确保只使用无缺陷材料，进而大大降低产业成本，提高生产率。

Han Kwan-young 教授指出，显示器快速发展和产品逐步复杂，使得公司在开发和大规模生产材料的损失增加，因此开发这个设备。团队未来也会研究有关 AR 和 VR 光学系统，以及 Micro LED 转移和再生的检测技术和应用技术。

檀国大学指出，研究成果已于去年 12月在日本 IDW 进行展示，也已经申请核心专利，计划今年 5 月在美国 SID 进行展示。