5月29日，JBD宣布成功将MicroLED微显示的坏点数从单屏≤100个降至≤3个。这一突破不仅标志着MicroLED微显示达到了LCD等成熟显示技术的品控水准，更树立了MicroLED微显示行业坏点指标的新基准。
坏点品控新水准
坏点与暗点的数量一直是衡量MicroLED微显示产品可靠性和技术成熟度的关键指标。此前，受限于技术水平和生产工艺，行业内普遍面临单屏坏点数量接近100个的技术瓶颈，这在一定程度上阻碍了消费级AR终端的普及应用。为了打破这一技术制约，JBD近年来持续深入MicroLED微显示核心技术研究，将微显示屏的坏点数降至单屏≤3个，其中0坏点完美屏的比例大幅提升。
不止于此，暗点同样是MicroLED微显示领域长期被忽视的技术挑战，它直接影响画面均匀性与成像质量。通过技术升级，JBD将单屏暗点率从高达0.4%降至0.03%的极低水平，再结合JBD独有的Demura像素亮度补偿算法，大幅度提高像素亮度均匀性。
坏点与暗点对显示质量和用户体验有着较大的影响，死点会在图像中形成明显的黑色斑点，破坏画面的完整性和细节表现；暗点则会使图像出现灰暗瑕疵，影响色彩准确性和画面均匀性。在高对比度或明亮场景中，这些缺陷尤为显眼，容易分散用户注意力，降低视觉沉浸感。减少坏点和暗点，可以有效避免图像残缺、颜色暗淡失真等问题，显著提升画面的完整性和均匀性，在提升AR近眼显示场景的视觉质量方面起着至关重要的作用。
技术工艺、设备管理全方位改进
提升微显示屏坏点和暗点的品控水准是一项复杂的系统工程，上述突破性进展得益于JBD在技术迭代、工艺优化、缺陷分析及精益管理等多方面的持续投入与协同发力。
技术层面，JBD通过改善外延结构，实现材料密度的均匀分布。同时，创新的工艺确保像素级的均匀驱动。设备和制造方面，引进先进设备提升加工精度。生产管理方面，在各道工艺增设检测流程，对关键环节进行严格监控与精准治理，确保整个生产过程符合最高质量标准。
以上不仅是JBD技术创新与生产工艺大幅提升的体现，更标志着MicroLED微显示正在步入应用成熟期。随着AI技术的飞速发展，人们对轻量化AR眼镜作为全天候AI助手的需求日益增长。MicroLED微显示技术凭借其高亮度、小体积、低功耗等卓越表现，正逐渐成为轻量化AR眼镜的首选方案。坏点和暗点品控水准的大幅进步，将进一步巩固JBD在近眼显示场景的优势。
站在消费级AR智能眼镜迈向大规模普及的重要关口，JBD始终致力于为客户打造性能卓越、品质可靠的微显示产品。面向未来，JBD将深耕MicroLED微显示技术，持续加大研发投入，推动产业持续向前发展，引领产业迈向新的高度。
